レーザー干渉計用Mx™

ZYGOのMx™ソフトウェアは、インタラクティブな3Dマップ、定量的位相データ、直感的ナビゲーション、統計、制御チャート、合格/不合格限界を伴う組み込み型SPCが含まれる、完全なシステム制御とデータ分析を可能にします。

世界クラスの分析・管理ソフトウェア

Mxは、信頼性の高いMetroPro測定・分析スイートの後継製品です。Mxは、信頼できる計測、強力なカスタマイズと生産に適した自動化を継続します。そのワークフローベースの設計により、セットアップから分析、レポートまで、計測体験に沿ってユーザーをガイドします。

インタラクティブプロットは、プロファイルスライス、ゼルニケ分析、勾配分析、PSDビューとともに、2Dまたは3Dの全領域データを表示します。内蔵型のSPC、合格/不合格の表示、データレポートと実行チャートで、製造品質分析がより簡単になります。

インタラクティブプロット - レーザー干渉計用Mx計測ソフトウェア

Mx ハイライト

耐振動性干渉法のアニメーション

堅牢な測定 – ZYGO独自の QPSI™テクノロジーとDynaPhase®測定値取得テクノロジーは、困難な計測環境における振動の影響を排除します。最近Verifire MSTに拡張された、これらの占有技術は、貴社のデータの信頼性を保証します。

貴社のチームのセットアップのサポート – ダブルパスコーナーキューブからかすめ入射まで、当社の典型的な干渉計セットアップガイドのすべてのテストに対応するビルトインサポート。テストのセットアップ、干渉計の倍率と結果に自信が持てるようになります。

Mx計測ソフトウェア

柔軟な分析 – 堅牢なフィッティングツール (ゼルニケ、環状ゼルニケ、ルジャンドル多項式など) から勾配やパワースペクトル分析まで、Mxは、製造を図面化し、プロセスを理解するのに必要なツールを提供します。

内蔵型SPC分析ツールは、結果の追跡、合否基準のモニタリング、およびプロセス統計の追跡を行います。電子レポート生成と明確な視覚的インジケータにより、生産ラインから部品を素早く取り出すことができ、テストレポートを見失うことはありません。

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