レーザー干渉計用Mx™
ZYGOのMx™ソフトウェアは、インタラクティブな3Dマップ、定量的位相データ、直感的ナビゲーション、統計結果チャート、合格/不合格判定などのビルトインSPCが含まれる、完全なシステム制御とデータ解析を可能にします。
世界クラスの解析・制御ソフトウェア
Mxは、信頼性の高いMetroPro測定・解析ソフトウェアの後継製品です。Mxは、信頼できる測定、強力なカスタマイズと生産に適した自動化を継承します。そのワークフローベースの設計により、セットアップから解析、レポートまで、測定フローに沿ってユーザーをガイドします。
インタラクティブプロットは、プロファイルスライス、ゼルニケ解析、スロープ解析、PSD解析とともに、2Dまたは3Dの全領域データを表示します。ビルトインSPC、合格/不合格の表示、データレポートと実行チャートで、製造品質解析がより簡単になります。
Mx ハイライト
信頼できる測定 – ZYGO独自の QPSI™テクノロジーとDynaPhase®測定テクノロジーは、困難な測定環境における振動の影響を排除します。Verifire MSTにも拡張された、これらの技術は、お客様のデータの信頼性を保証します。
お客様ののセットアップのサポート – ダブルパスコーナーキューブから斜入射測定まで、当社の一般的な干渉計セットアップガイドのすべてのテストに対応するサポート。テストのセットアップ、干渉計の測定結果に自信が持てるようになります。
柔軟な分析 – フィッティングツール (ゼルニケ、環状ゼルニケ、ルジャンドル多項式など) からスロープ解析やパワースペクトル解析まで、Mxは、製造プロセスを理解するのに必要なツールを提供します。
ビルトインSPC解析ツールは、結果の追跡、合否基準のモニタリング、およびプロセス結果の追跡を行います。電子レポート作成と視覚的インジケータにより、生産ラインから部品を素早く取り出すことができ、テストレポートを見失うことはありません。