3D光学プロファイラ用Mx™

ZYGOのMx™ソフトウェアは、インタラクティブな3Dマップ、定量的トポグラフィデータ、直感的ナビゲーション、統計、制御チャート、合格/不合格限界を伴う組み込み型SPCが含まれる、完全なシステム制御とデータ分析を可能にします。

世界クラスの分析・管理ソフトウェア

Mxは、信頼性の高いMetroPro測定・分析スイートの後継製品です。Mxは、信頼できる計測、強力なカスタマイズと生産に適した自動化を継続します。そのワークフローベースの設計により、セットアップから分析、レポートまで、計測体験に沿ってユーザーをガイドします。

インタラクティブプロットは、プロファイルスライス、材料比、勾配分析、PSDビューとともに、2Dまたは3Dの全領域データを表示します。内蔵型のSPC、合格/不合格の表示、データレポートと実行チャートで、製造品質分析がより簡単になります。

Mx ハイライト

3D プロファイラプロット

堅牢な測定 – Mxを使用した取得では、粗い表面や角度のある表面でも、困難な環境でも、最も重要な部品のトポグラフィデータをキャプチャします。ZYGO独自のテクノロジーが、より多くのデータをより簡単に提供します。

柔軟な測定 – ISOに準拠する粗さと平坦度のフィルタリングから、欠陥検出の自動セグメンテーション、要素の認識とゲージングまで、Mxは、データが伝える事実を理解するのに役立つ分析ツールキットを提供します。

直感的なユーザーインターフェース

直感的なユーザーインターフェース – 便利なユーザーインターフェースを使用することで、すぐに自信を持って測定を始められます。さらに、強力なカスタマイズツールを使用して、簡単なワンクリックまたは自動化インターフェースをすばやく作成できます。

自動化された操作 – Mxでは、グラフィカルインターフェースを使用して、複数の視野のスティッチ、トレイを使用した複数の部品の測定、部品の複数の側面を分析する複雑なレシピなど、完全自動測定シーケンスを簡単に構成できます。ユーザーの介入によって重要な計測が影響を受けないよう、ユーザーレベルを制限し、構成をロックダウンすることができます。

X
当サイトの利用を継続することにより、 当社のプライバシーポリシーおよびCookieポリシーに同意したものとみなされます。
OK