Verifire™

光学部品の製造を後押しする測定装置

Verifireレーザー干渉計システム
Lorem Ipsum は単なる印刷用のダミーテキストです。

Verifire™ 干渉計システムは、光学部品、システム、およびアセンブリの表面形状誤差と透過波面の高速で信頼性の高い測定を提供します。

真のレーザーフィゾー設計であるVerifire™システムは、表面形状測定におけるZYGOの比類なき経験を継承しています。ZYGOが製造したHeNeレーザー光源と、ZYGOの特許取得済みのアルゴリズム、フル機能のMx™測定ソフトウェアを組み合わせることで、使いやすい解析機能を備えた高精度の測定装置を実現します。

製造現場での信頼性の高い測定

この数年間で、光学測定技術は飛躍的に進歩しました。 これまで、信頼性の高い測定を行うためには、環境による影響を慎重に管理することが必要でした。 ZYGOは現在、振動や乱気流のため従来の光学的測定が困難または不可能になり得る過酷な環境で、信頼性の高い測定を実現するためのテクノロジーを提供しています。

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振動による干渉縞ノイズのあるPSI測定と、QPSI™ テクノロジーで測定した干渉縞ノイズのない同じ表面のアニメーション比較。

光学部品の表面形状と平坦度の測定、およびウィンドウ、ミラー、レンズ、プリズムなどの光学系とサブアセンブリの波面、そして精密に機械加工された金属やセラミックの表面の測定が可能。

標準オプションには、QPSI耐振動性取得、強力であると同時に使いやすい、測定、解析、自動化の機能が完備されたMx™ソフトウェア、ZYGO製HeNeレーザー光源の3年保証などがあります。

主な特長

  • ZYGO製HeNeレーザー光源
    • 市販のレーザーよりも長寿命で、3年間保証の付いた60,000時間の寿命!
    • 改善された耐振動性能と低反射アプリケーションのための高出力
    • 0.0001nmの安定した波長
  • ZYGO独自のQPSI™測定テクノロジーが、振動が生じやすい環境における信頼性の高い測定を実現します。
  • 連続可変1X-5X光学ズーム