IR(赤外波長)干渉計
要求の厳しいIR画像アプリケーション向けの特殊波長測定
光学イメージングアプリケーションは幅広く多様です。システムの設計波長でのテストは、開発、最終アライメント、および精度保証のために非常に重要です。
航空宇宙・防衛用の暗視、IR、熱画像システム、リソグラフィサブシステム、リモートセンシング望遠鏡、そして特殊な材料の認定には、幅広いさまざまな波長要件が伴いますが、すべて1台の赤外波長干渉計システムを使用して設計波長でテストできることは大きな利点です。
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詳細
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パンフレットと
仕様シート -
アプリケーション
ノート -
マニュアル
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技術文書
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動画
干渉測定定装置の世界的リーダーとして長年に渡って認められているZYGOは、NIR、SWIR、MWIR、LWIR波長など、さまざまな特殊機能を備えた干渉計システムを設計・構築してきました。 ZYGOは、これらの波長向けの一連の参照用光学部品 (透過球面と透過平面) も設計・製造しています。
主な特長
- 幅広い動作波長:
- NIR: 1.053 µmと1.064 µm
- SWIR: 1.55 µm
- MWIR: 3.39 µm
- LWIR 10.6 µm
- 波長でのQFASアライメントビューにより、赤外線テストシステムとコンポーネントのセットアップが容易になります。
- 振動が生じやすい環境での信頼性の高い測定を可能にする、ZYGO独自のQPSI™測定テクノロジーが、NIR、SWIRおよびMWIRモデルで利用可能になりました。
- 最も困難な環境で振動の影響を受けずに測定するための、オプションのDynaPhase™瞬間測定。
