コンパス™2
白色干渉計 ZYGO Compass™ 2 測定システムは、スマートフォンやタブレット、車載ビジョンシステムに搭載される小型カメラモジュールに不可欠なディスクリート小型レンズとモールドの自動非接触 3D 表面測定およびプロセス制御のベンチマークとなるものです。
ZYGOの垂直走査型低コヒーレンス干渉法（CSI）技術を中核に、業界最高レベルの精度、汎用性、速度を実現し、再現性のある測定と生産プロセス制御を実現します。
Compass 2システムには、測定のニーズに応じて2つのモデルがあります。
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詳細
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パンフレットと
仕様シート -
アプリケーション
ノート -
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技術文書
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生産現場で実証された技術
Compass 2システムの核となるのは、ZYGOのCSIベースの光学式プロファイラ技術です。この技術は、再現性のある測定と生産工程管理のために、業界をリードする精度、汎用性、速度を実現します。
形状と偏差
- 球面、非球面、自由曲面のレンズやモールドの表面形状をサブナノメートルの精度で非接触3Dマッピングします。
- 設計デザインからの形状偏差の高度な分析
- ダイヤモンド切削加工機とのデータ統合による表面補正
位置関係/寸法測定
- 片面または両面レンズの機械的な設計特徴の定量的な測定と検査（表裏の基準相対・レンズ面と基準の相対）
Mx™ソフトウェアによるフィルム分析
サブオングストロームの表面テクスチャの測定
ダイナミックMEMSデバイスの測定
振動の特定と制御
PSD分析
Visionソフトウェアスイート
ABS形状とMetroPro® 計算
高度なテクスチャアプリケーションを最大限に活用する
NewView™でのフィルタリング
ヘイズによる薄膜PV性能の制御
NewView™を用いた光電池パネルの測定
NewViewでの光学ダイバータを用いた測定
磨き上げられた表面のNewViewによる測定
ディーゼル燃料噴射器の測定
高傾斜面の光学的プロファイリング
題名
書類
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