光学材料の均質性

光学部品の重要な特性の一つは、それらが作られる材料の屈折率の変化であり、広く均質性と呼ばれます。 材料の不均質性は、ガラスの屈折率のばらつきの原因となります。これは、脈理と呼ばれる鋭い紐状の形をしている場合もあれば、サンプルのより広い領域におよぶ屈折率の勾配として生じる場合もあります。 材料の変動を評価し、その影響が材料を使用する特定の光学設計の公差内であることを保証する必要があります。

ZYGO レーザー干渉計製品は、光学材料の均質性を評価するためのさまざまな機能と包括的なMxデータ取得･解析ソフトウェアに組み込まれた解析を提供します。

Verifire MST –マルチサーフェステスト干渉計は、ウィンドウの透過波面を同時に測定し、表面変形の影響を排除することにより (精密な材料測定を実現するために必要) 、平行平板の材料の均質性評価に適しています。 MSTを使用した同時測定により、測定の不確さを低減することで、最も精度の高い結果を得ることができ、他の測定方法では失われる均質性の重要な線形成分の情報も取得できます。

Verifire とDynafiz干渉計は、材料の均質性測定用に設計された測定・解析ソフトウェアパッケージを使用することで、、ウェッジ付き光学部品に対して同様な測定能力を可能にします。